Microscopio De Fuerza Atómica.docx

Microscopio de fuerza atómica (MFA)

Johan sebastian Villamarin & Eduardo castro. Abril 2019.

Corporación Universitaria Comfacauca Popayán cauca. Materiales de ingeniería

Tabla de Contenidos Microscopio de fuerza atomica ..................................... Error! Bookmark not defined. Modos de trabajo ........................................................... Error! Bookmark not defined. Funcionamiento Figuras ............................................... Error! Bookmark not defined. Figuras de materiales .................................................... Error! Bookmark not defined. Usos del MFA ............................................................... Error! Bookmark not defined. Ventajas y desventajas del MFA. .................................................................................... 3

Microscopio de fuerza atómica (MFA) Es un instrumento mecano-optico capaz de detectar fuerzas en nano newtons, con esto se puede analizar superficies, tiene una sonda que va acoplada a un listón microscópico, muy sensible al efecto de las fuerzas, de sólo unos 200 µm de longitud(MICROSCOPIO DE FUERZA ATÓMICA, n.d.) Con el microscopio de fuerza atómica se puede conocer y caracterizar de una forma más rápida los materiales poliméricos (Crespo, Carbonero, & Sánchez, 2013) El MFA tiene diferentes modos de trabajo Por Contacto: Mide la topografía de la muestra deslizando la punta sobre su superficie.(Cruz, González, & Castrellón-Uribe, n.d.) Tapping: También llamado contacto intermitente, mide la topografía de la muestra tocando intermitentemente su superficie(Cruz et al., n.d.) No Contacto: Mide la topografía de acuerdo a las fuerzas de Van der Waals que existen entre la superficie de la muestra y la punta.(Cruz et al., n.d.) Van der Waals son fuerzas intermoleculares atractivas o repulsivas, diferentes de aquellas que generan los enlaces atómicos (iónicos, metálicos o covalentes de tipo reticular o la atracción electrostática entre iones y otras moléculas.(Crespo et al., 2013)

Figura 1. Partes y funcionamiento de un MFA

Figura 2. Funcionamiento A medida que el material procede al escaneado en los ejes x,y la palanca que sostiene la punta se deflexiona arriba o abajo (eje Z) y esta deflexión es detectada mediante un láser que finalmente incide sobre la superficie de un fotodetector, el cual se encarga de seguir la evolución de la sonda del microscopio.(Crespo et al., 2013)

Fig 3. patrón de adhesión de proteínas en superficies poliméricas (Acosta, Villada, Torres, & Ramírez, 2006)

Fig. 4: Imágenes obtenidas por Microscopía de Fuerza Atómica de la estructura atómica de un almidón de yuca (del Puerto Rodríguez, Suárez Tamayo, & Palacio Estrada, 2014) Usos del AFM ‐Topografía ‐ Distribución Distribución de fases cristalinas ‐ Organización de fases en polímeros nanoestructurados ‐ Propiedades de adhesión ‐ Indentación ‐ Propiedades magnéticas, eléctricas ‐Propiedades en inmersión (Crespo et al., 2013)

FIG 5. Ventajas y desventajas en los modos de trabajo (Crespo et al., 2013)